陰極熒光成像及光譜探測系統(tǒng)
陰極熒光成像及光譜探測產(chǎn)品簡介
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產(chǎn)品參數(shù)
1. 陰極熒光成像及光譜探測系統(tǒng)能夠同掃描電子顯微鏡或聚焦離子束系統(tǒng)配合;
2. 系統(tǒng)配備熒光收集鏡及光纖傳輸接口、信號調(diào)理采集系統(tǒng)、電子束掃描發(fā)生器、成像光譜儀、多通道及單通道探測器;
3. 同時可采集經(jīng)信號調(diào)理采集系統(tǒng)獲得的熒光強(qiáng)度信號;實(shí)現(xiàn)電子束掃描信號與探測器數(shù)據(jù)采集的嚴(yán)格同步,獲得陰極熒光成像、陰極熒光光譜面分布數(shù)據(jù);
4. 可在納米空間分辨率下提供各類材料的陰極熒光成像和光譜測量,尤其適用于半導(dǎo)體材料研究、光電材料和器件研究研發(fā)、納米光子學(xué)科學(xué)研究、薄膜和納米結(jié)構(gòu)、地質(zhì)氧化物及礦物等。
1.光譜響應(yīng)范圍:250-1100nm;
2.濾光片輪:六檔,裝配有RGB濾光片,軟件控制;
3.PMT光譜分辨率:0.2nm(@1200g/mm光柵);
4.電源:220 V(±10%),50 HZ;
5.振動及電磁環(huán)境要求:滿足電鏡安技條件;
6.設(shè)備參數(shù)可定制,滿足個性化定制需求
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